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技術(shù)文章

產(chǎn)品分類

局部放電測量儀常用的名詞術(shù)語

  (1)局部放電
 
  局部放電是指在絕緣的局部位置放電,它并不構(gòu)成整個絕緣的貫通性擊穿。它包含三種放電形式:內(nèi)部放電(在介質(zhì)內(nèi)部)、沿面放電(在介質(zhì)表面)、電暈放電(在電極尖端)。
 
  (2)電荷量q
 
  在試品兩端瞬時注入一定電荷量,使試品端電壓的變化和由局部放電本身引起的端電壓的變化相同,此注入量即為局部放電的視在電荷量。
 
  (3)視在放電量校準器
 
  視在放電量校準器是一標準電量發(fā)生器,試驗前它以輸出某固定電量加之試品兩端,模擬該試品在此電量下放電時局部放電測試儀的響應(yīng),此時調(diào)整刻度系數(shù),確定局部放電檢測儀的量程,以便在試驗時測量該試品在額定電壓下的視在放電量。因該放電量時以標準電量發(fā)生器比較后間接測出,而非直接測出,故此放電量稱為"視在放電量"。
 
  校正電量發(fā)生器是測量局部放電時必備的儀器,它的性能參數(shù)直接關(guān)系到測試結(jié)果的準確性。
 
  視在放電量校準器由校準脈沖電壓發(fā)生器和校準電容串聯(lián)組成,其參數(shù)主要包括:脈沖波形上升時間、衰減時間、內(nèi)阻、脈沖峰值、校準電容值等。
 
  校準脈沖電壓發(fā)生器電壓波形上升時間為從0.1U0到0.9U0的時間,衰減時間定義為從峰值下降到0.1U0的時間。
 
  (4)檢測阻抗
 
  檢測阻抗是拾取檢測信號的裝置,在使用中,應(yīng)根據(jù)不同的測試目的,被試品的種類來選擇合適的檢測阻抗,以提高局部放電測量的靈敏度、分辨能力、波形特性及信噪比。
 
  (5)時間窗(門單元)
 
  時間窗是為防止大于局部放電的干擾信號進入峰值檢波電路而設(shè)計的一種電路裝置。因在實際試驗時,尤其是在現(xiàn)場做試驗時,不可避免地會引入一些干擾,所以,時間窗的使用更顯得重要。